〖⒈〗Allen-Bradley(AB)系列产品》
〖⒉〗Schneider(施耐德电气)系列产品》
〖⒊〗General electric(通用电气)系列产品》
〖⒋〗Westinghouse（西屋）系列产品》
〖⒌〗SIEMENS(西门子系列产品)》
〖⒍〗销售ABB Robots. FANUC Robots、YASKAWA Robots、KUKA Robots、Mitsubishi Robots、OTC Robots、Panasonic Robots、MOTOMAN Robots
〖⒎〗estinghouse（西屋）：OVATION系统、WDPF系统、MAX1000系统备件。
〖⒏〗Invensys Foxboro（福克斯波罗）：IA Series系统，FBM（现场输入输出模块）顺序控制、梯形逻辑控制、事故追忆处理、数模转换、输入输出信号处理、数据通信及处理等。Invensys Triconex 冗余容错控制系统、基于三重模件冗余（TMR）结构的现代化的容错控制器。
〖⒐〗Siemens(西门子)：Siemens MOORE，Siemens Simatic C1，Siemens数控系统等。
〖⒑〗Bosch Rexroth（博世力士乐）：Indramat，IO模块,PLC控制器,驱动模块等。
〖⒒〗Motorola（摩托罗拉）：MVME 162、MVME 167、MVME1772、MVME177等系列。
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基于种子和逐位倒转的RAM测试方法
基于种子和逐位倒转的测试方法是在方法3的基础上进一步改进获得的。方法3主要是使用全O和全1两个背景数来移位展开的，与MARCH-G算法相比获得的故障覆盖率稍微低些，但使用了较少的地址单元。这里我们把方法3中的背景数称为“种子”。以地址线为8根的RAM为例，种子分别取#00和#11两个数，取#00、#11、0000llll和llll0000四个数，以及取#00、#11、#11、#00、#11、1100llOO、#01和#10八个数来移位展开测试，所达到的故障覆盖率是不一样的。种子数为2的改进方法要低于MARCH-G算法的故障覆盖率，种子数为4的改进方法与MARCH-G算法相当，种子数为8的改进方法能够超过MARCH-G算法的效果。整体上基于种子和逐位倒转的改进方法是可以代替MARCH-G算法的，但是种子数目不同所需要的寻址次数也是不同的。设地址线为n根，种子数为2时需要访问RAM共计4”+4次，种子数为4时需要访问RAM共计8n+8次，种子数为8时需要访问RAM共计16n+16次，而MARCH-G算法需要访问RAM共计6×2n次。可见，基于种子和逐位倒转的改进方法比MARCH-G算法的测试时间开销大大降低。同时，故障覆盖率会随着种子数目的增加而提高，当然不同种子数时所需要的测试时间开销也不同。在实际测试应用中要根据测试时间和测试故障覆盖率的需求来选择合适的种子数目，才能达到满意的效果。
承诺一：1、保证全新原装进口
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流程一：1、客户确认所需采购产品型号
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